企業(yè)管理培訓(xùn)分類導(dǎo)航
企業(yè)管理培訓(xùn)公開(kāi)課計(jì)劃
企業(yè)培訓(xùn)公開(kāi)課日歷
2025年
2024年
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可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)踐培訓(xùn)班
【課程編號(hào)】:MKT016027
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)踐培訓(xùn)班
【課件下載】:點(diǎn)擊下載課程綱要Word版
【所屬類別】:研發(fā)管理培訓(xùn)
【時(shí)間安排】:2025年10月19日 到 2025年10月20日3000元/人
2024年11月03日 到 2024年11月04日3000元/人
2023年11月19日 到 2023年11月20日3000元/人
【授課城市】:上海
【課程說(shuō)明】:如有需求,我們可以提供可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)踐培訓(xùn)班相關(guān)內(nèi)訓(xùn)
【課程關(guān)鍵字】:上海可測(cè)性設(shè)計(jì)培訓(xùn),上海DFT培訓(xùn)
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課程介紹:
隨著 IT 行業(yè)電子產(chǎn)品的種類日漸增多競(jìng)爭(zhēng)日趨激烈。所以如何把握好產(chǎn)品的質(zhì)量就成為最為重要的部分。硬件測(cè)試是電子產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)如何將測(cè)試工作開(kāi)展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子企業(yè)所追求的目標(biāo)。本課程從測(cè)試的理論出發(fā)結(jié)合實(shí)際的產(chǎn)品測(cè)試經(jīng)驗(yàn)介紹了測(cè)試的目的、原理、流程和實(shí)際應(yīng)用操作并將測(cè)試同研發(fā)、銷售和公司的市場(chǎng)推廣進(jìn)行結(jié)合以更貼近企業(yè)的形式闡述了硬件測(cè)試在企業(yè)中的開(kāi)展方法,我們特決定組織召開(kāi)“可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)踐高級(jí)研修班”。
課程收益:
深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理
熟悉可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
全面掌握可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
有效構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺(tái)和貨架技術(shù)
培訓(xùn)對(duì)象:
研發(fā)總監(jiān)、系統(tǒng)工程師、研發(fā)經(jīng)理、品質(zhì)經(jīng)理、測(cè)試經(jīng)理、制造技術(shù)經(jīng)理、新產(chǎn)品導(dǎo)入NPI經(jīng)理及骨干工程師等
課程大綱:
一、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述
1、產(chǎn)品生命周期V模型
2、電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問(wèn)題
3、什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
4、思考:如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
5、可測(cè)性的物理特征表述
6、可測(cè)性的測(cè)度形式
討論:以下各功能模塊的可測(cè)性測(cè)度是怎樣的?
7、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析
8、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素
9、IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
10、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過(guò)程
11、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語(yǔ)及縮略語(yǔ)
二、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
1、整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
2、整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
3、單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
4、單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
5、單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
6、單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
7、單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
8、單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型
思考:?jiǎn)伟迳a(chǎn)測(cè)試的目的是什么?
9、單板生產(chǎn)測(cè)試路線
10、單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理
11、單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理
12、單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
討論:本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的?
13、JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用
14、JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
15、單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
思考:本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段?
三、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
1、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道
2、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集
3、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理
4、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出
5、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部?jī)x器輸入輸出接口
6、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
7、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
8、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
9、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
10、能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)
11、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
12、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
13、能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
14、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
15、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
16、BIST設(shè)計(jì)——通道分層環(huán)回
17、BIST設(shè)計(jì)——故障診斷
18、BIST設(shè)計(jì)——初始化自檢
案例解讀
四、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
1、機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
2、自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)
3、工裝夾具設(shè)計(jì)
4、測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)
5、芯片控制引腳設(shè)計(jì)
6、邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì)
7、EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)
8、如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)
五、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
3、交流與探討:如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)
程老師
資深講師研發(fā)工程技術(shù)產(chǎn)線總監(jiān) APECG 測(cè)試工程首席專家 中國(guó)電子協(xié)會(huì) ATE 測(cè)試分會(huì)會(huì)員
工作經(jīng)驗(yàn): 華為公司從事通訊產(chǎn)品可測(cè)試設(shè)計(jì)的研究及開(kāi)發(fā)工作,曾參與大型程控交換機(jī)、光通信產(chǎn)品、會(huì)議電視系統(tǒng)項(xiàng)目的可測(cè)試及可制造性工程實(shí)施,歷任華為中央硬件研發(fā)平臺(tái)部開(kāi)發(fā)經(jīng)理,兆天網(wǎng)絡(luò)中試部經(jīng)理等